紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

　　紫外輻照計的操作說明：

　　1、紫外線源(太陽，紫外燈等)的輻射強度測量測量紫外線源的紫外強度時，探測器方向正對紫外線源，按下"POWER"鍵，開啟儀器，選擇適合的測試量程即可。右圖測試太陽光到達地面的紫外線輻射強度，測量值為712uW/cm2。

　　2、太陽隔熱膜、隔熱玻璃等對紫外線的阻隔性能測試太陽膜或隔熱玻璃等的紫外線阻隔性能測試時，應分兩步測量:

　　第一步:測量紫外源的輻射強度:

　　紫外源可選太陽光或紫外燈等。首先測量紫外源的紫外線的輻

　　射能功率密度UV1W。(如圖1的第一步)

　　第二步:測量被太陽膜阻隔后的紫外源的輻射強度:

　　保持紫外源與儀器間距離不變，在儀器與紫外源之間插入待測太陽膜或隔熱玻璃，被測物需緊貼儀器的測量端面，以免受外界光的影響。記下有太陽膜時紫外線的輻射能功率密度UV2W。